Wählen Sie eine der drei oben angegebenen Arten der Angebotsabgabe, für Details siehe Pflichtenheft.
","en":null,"fr":"Choisir un des 3 modes de remise des offres indiqués ci-dessus, pour les détails voir cahier des charges.
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Zusätzlich zu den routinemäßigen, konventionellen TEM-Operationen wie BF/DF-Abbildungen und ausgewählter Bereichsbeugung wird das neue Mikroskop dazu dienen, die Nanostruktur und chemische Zusammensetzung von Proben im Bereich der Materialwissenschaften, Physik und Chemie mit atomarer Auflösung zu untersuchen. Es wird auch von unerfahrenen Anwendern in der Mikroskopie bedient werden, die Cs-korrigierte Mikroskopie-Techniken benötigen. Die Bedienung und Justierung sollte intuitiv sein und keine langjährige Erfahrung in Transmissionselektronenmikroskopie erfordern.
Das Mikroskop sollte den Wechsel von Abbildungstechniken und Hochspannungen innerhalb eines angemessenen Zeitraums ermöglichen und die vollständigen Spezifikationen erfüllen. In der Regel muss ein HT-Wechsel innerhalb einer einzigen Sitzung (einem halben Tag) möglich sein.
","en":null,"fr":"L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à haute résolution équipé d’un correcteur Cs « sonde », qui sera intégré à la plateforme de microscopie électronique de l'EPFL, CIME.
En plus des opérations TEM conventionnelles courantes, telles que l'imagerie BF/DF et la diffraction sur zone sélectionnée, le nouveau microscope servira à étudier la nanostructure et la composition chimique d'échantillons à une résolution atomique dans le domaine de la science des matériaux, de la physique et de la chimie. Il sera également utilisé par des utilisateurs novices en microscopie qui ont besoin d'un microscopie corrigée en Cs. Son fonctionnement et son alignement doivent être intuitifs et ne pas nécessiter une longue expérience en microscopie électronique à transmission.
Le microscope devrait permettre de changer de mode et de haute tension et fonctionner dans le respect de toutes les spécifications dans un délai raisonnable. En règle générale, le changement de HT doit être possible en une seule session (une demi-journée).
La résolution STEM à différentes haute tensions, l'imagerie à faible dose, les performances EDX et la facilité d'utilisation seront des critères importants.
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