Zuschlag

Publikationsdatum Simap: 03.05.2018

1. Auftraggeber

1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers

Bedarfsstelle/Vergabestelle: ETH Zürich
Beschaffungsstelle/Organisator: ETH Zürich
Professur für Nanotechnik,  zu Hdn. von Prof. Andreas Stemmer, Säumerstrasse 4,  8803  Rüschlikon,  Schweiz,  E-Mail:  astemmer@ethz.ch

1.2 Art des Auftraggebers

Dezentrale Bundesverwaltung – öffentlich rechtliche Organisationen und andere Träger von Bundesaufgaben

1.3 Verfahrensart

Freihändiges Verfahren

1.4 Auftragsart

Lieferauftrag

1.5 Staatsvertragsbereich

Ja

2. Beschaffungsobjekt

2.1 Projekttitel der Beschaffung

Rasterkraftmikroskop Cypher ES mit kontrollierter Messumgebung

2.2 Gemeinschaftsvokabular

CPV:	38510000 - Mikroskope

3. Zuschlagsentscheid

3.1 Zuschlagskriterien

entfällt

3.2 Berücksichtigte Anbieter

Name: Oxford Instruments GmbH,  65205  Wiesbaden,  Deutschland
Preis (Gesamtpreis):  EUR 312'790.89 ohne MWSt.

3.3 Begründung des Zuschlagsentscheides

Begründung: Gemäss Art. 13, Abs. 1, Lit c VöB

4. Andere Informationen

4.2 Datum des Zuschlags

Datum: 26.04.2018

4.5 Rechtsmittelbelehrung

Gegen diese Publikation kann gemäss Art. 30 BöB innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 9023 St. Gallen, erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Publikation und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.