Zuschlag- Publikationsdatum Simap: 25.06.2018
1. Auftraggeber1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers- Bedarfsstelle/Vergabestelle: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Beschaffungsstelle/Organisator: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) Centre Interdisciplinaire de Microscopie électronique (CIME),
zu Hdn. von
Professor Cécile Hébert, Bâtiment MXC - Station 12,
1015
Lausanne,
Schweiz,
E-Mail:
cecile.hebert@epfl.ch
1.2 Art des Auftraggebers- Dezentrale Bundesverwaltung – öffentlich rechtliche Organisationen und andere Träger von Bundesaufgaben
1.3
Verfahrensart
-
Offenes Verfahren
1.4
Auftragsart
-
Lieferauftrag
1.5
Staatsvertragsbereich
-
Ja
2. Beschaffungsobjekt2.1 Projekttitel der Beschaffung- Focused Ion Beam - SEM (FIB-SEM)
2.2 GemeinschaftsvokabularCPV: | 38511100 - Rasterelektronenmikroskope |
3. Zuschlagsentscheid3.1 Zuschlagskriterien- Gemäss Ausschreibung
3.2 Berücksichtigte Anbieter- Name: Gloor Instruments AG, Schaffhauserstrasse 121,
8302
Kloten,
Schweiz
Preis (Gesamtpreis):
Ohne Angabe gemäss Art. 23 Abs. 3 Lit. b BöB
3.3 Begründung des Zuschlagsentscheides- Begründung: Das gewählte Material entspricht zum jetzigen und voraussehbaren Zeitpunkt am ehesten unseren
finanziellen Mitteln und Bedürfnissen (Sicherung der Investitionen) unter Berücksichtigung der schnellen Entwicklung der Anforderungen in der Forschung.
4. Andere Informationen 4.1 Ausschreibung- Publikation vom: 05.07.2017
im Publikationsorgan: www.simap.ch
Meldungsnummer
975827
4.2 Datum des Zuschlags- Datum: 22.06.2018
4.3 Anzahl eingegangene Angebote - Anzahl Angebote: 2
4.5 Rechtsmittelbelehrung- Gegen diese Publikation kann gemäss Art. 30 BöB innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 9023 St. Gallen, erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Publikation und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.
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