Support

Haben Sie Fragen oder benötigen Sie Unterstützung?
Häufige Fragen
Kontakt Simap-Helpdesk
Suche ändern
Sie können Ihre Suchkriterien ändern oder die Suche verfeinern
Stichwort:
Ort der Auftragserfüllung:
Zeitraum:
Heute

Laufende Woche

Laufendes Jahr

von
bis

Gesamt (letzte 3 Jahre)
Sie sind hier:
Startseite> Recherchieren> Einzelmeldungen

Ihre Ergebnisse

Sie suchten nach: Meldungs Nr : 1067581
25.03.2019|Projekt-ID 178399|Meldungsnummer 1067581|Zuschläge

Zuschlag

Publikationsdatum Simap: 25.03.2019

1. Auftraggeber

1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers

Bedarfsstelle/Vergabestelle: Universität Zürich
Beschaffungsstelle/Organisator: Universität Zürich,
Portfoliomanagement
Bedarfsmanagement,  zu Hdn. von Johanna Vogt, Stampfenbachstrasse 73,  8006  Zürich,  Schweiz,  Telefon:  +41 (0)44 635 41 69,  E-Mail:  johanna.vogt@pfm.uzh.ch

1.2 Art des Auftraggebers

Kanton

1.3 Verfahrensart

Offenes Verfahren

1.4 Auftragsart

Lieferauftrag

1.5 Staatsvertragsbereich

Ja

2. Beschaffungsobjekt

2.1 Projekttitel der Beschaffung

Low Temperature Scanning Tunneling Microscope for electron spin resonance

2.2 Gemeinschaftsvokabular

CPV:  38514200 - Rastersondenmikroskope

3. Zuschlagsentscheid

3.1 Zuschlagskriterien

Gemäss Ausschreibung

3.2 Berücksichtigte Anbieter

Name: CreaTec Fischer & Co. GmbH, Industriestrasse 9,  74391  Erligheim,  Deutschland
Preis (Gesamtpreis):  EUR 420'000.00 ohne MWSt.

4. Andere Informationen

4.1 Ausschreibung

Publikation vom: 31.10.2018
Meldungsnummer 1044935

4.2 Datum des Zuschlags

Datum: 19.03.2019

4.3 Anzahl eingegangene Angebote

Anzahl Angebote: 2

4.5 Rechtsmittelbelehrung

Gegen diesen Zuschlag kann innert 10 Tagen, von der Publikation an gerechnet, beim Verwaltungsgericht des Kantons Zürich, Postfach, 8090 Zürich, schriftlich Beschwerde eingereicht werden. Die Beschwerdeschrift ist im Doppel einzureichen. Sie muss einen Antrag und dessen Begründung enthalten. Die angefochtene Zuschlagsverfügung ist beizulegen. Die angerufenen Beweismittel sind genau zu bezeichnen und, soweit möglich, beizulegen.