Zuschlag

Publikationsdatum Simap: 27.02.2020

1. Auftraggeber

1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers

Bedarfsstelle/Vergabestelle: ETH Zürich
Beschaffungsstelle/Organisator: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
ScopeM,  zu Hdn. von Dr. Nicolas Blanc, Otto-Stern-Weg 3,  809  Zürich,  Schweiz,  E-Mail:  nicolas.blanc@scopem.ethz.ch,  URL www.ethz.ch

1.2 Art des Auftraggebers

Dezentrale Bundesverwaltung – öffentlich rechtliche Organisationen und andere Träger von Bundesaufgaben

1.3 Verfahrensart

Offenes Verfahren

1.4 Auftragsart

Lieferauftrag

1.5 Staatsvertragsbereich

Ja

2. Beschaffungsobjekt

2.1 Projekttitel der Beschaffung

Hochauflösendes Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop

2.2 Gemeinschaftsvokabular

CPV:	38511100 - Rasterelektronenmikroskope,
	38512000 - Ionen- und Molekularmikroskope

3. Zuschlagsentscheid

3.1 Zuschlagskriterien

Gemäss Ausschreibung

3.2 Berücksichtigte Anbieter

Name: FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich, Schiffbaustrasse 2,  8005  Zürich,  Schweiz
Preis (Gesamtpreis):  Ohne Angabe gemäss Art. 23 Abs. 3 Lit. b BöB

3.3 Begründung des Zuschlagsentscheides

Begründung: Der Zuschlagsempfänger hat die höchste Gesamtpunktzahl erreicht.

4. Andere Informationen

4.1 Ausschreibung

Publikation vom: 13.07.2019
im Publikationsorgan: www.simap.ch
Meldungsnummer 1087349

4.2 Datum des Zuschlags

Datum: 26.02.2020

4.3 Anzahl eingegangene Angebote

Anzahl Angebote: 3

4.5 Rechtsmittelbelehrung

Gegen diese Publikation kann gemäss Art. 30 BöB innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 9023 St. Gallen, erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Publikation und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.