Zuschlag

Publikationsdatum Simap: 15.12.2016

1. Auftraggeber

1.1 Offizieller Name und Adresse des Auftraggebers

Bedarfsstelle/Vergabestelle: ETH Zürich
Beschaffungsstelle/Organisator: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Scientific Center for Optical and Electron Microscopy (ScopeM),  zu Hdn. von Dr. Nicolas Blanc, Auguste-Piccard-Hof 1 - HPT D 5,  8093  Zürich,  Schweiz,  E-Mail:  nicolas.blanc@scopem.ethz.ch,  URL www.scopem.ethz.ch

1.2 Art des Auftraggebers

Dezentrale Bundesverwaltung – öffentlich rechtliche Organisationen und andere Träger von Bundesaufgaben

1.3 Verfahrensart

Offenes Verfahren

1.4 Auftragsart

Lieferauftrag

1.5 Staatsvertragsbereich

Ja

2. Beschaffungsobjekt

2.1 Projekttitel der Beschaffung

300kV in-situ Transmission Elektronenmikroskop mit Bildkorrektor

2.2 Gemeinschaftsvokabular

CPV:	38511000 - Elektronenmikroskope

3. Zuschlagsentscheid

3.2 Berücksichtigte Anbieter

Liste der Anbieter

Name: JEOL (Germany) GmbH, Gute Änger 30,  85356  Freising,  Deutschland
Preis:  Ohne Angabe gemäss Art. 23 Abs. 3 Lit. b BöB

4. Andere Informationen

4.1 Ausschreibung

Publikation vom: 24.06.2016
im Publikationsorgan: www.simap.ch
Meldungsnummer 920049

4.2 Datum des Zuschlags

Datum: 13.12.2016

4.5 Rechtsmittelbelehrung

Gegen diese Publikation kann gemäss Art. 30 BöB innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 9023 St. Gallen, erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Publikation und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.